산업
- 대부분 금속
최대 에너지
- 최대 750J
시험 유형
- 샤르피
- 아이조드
- 인장 충격
- 브루거
- 웻지 충격
표준
- ISO 148-1
- ISO 14556
- ISO 11343
- ASTM E23
- BS131-1
- ZF 15-53
- JIS Z 2242
- GOST 9454-78
HIT750P 펜듈럼 충격 시험기
HIT450P 펜듈럼 충격 시험기 미닫이 도어 또는 여닫이 도어
미닫이 도어 또는 여닫이 도어로 제공
펜듈럼 충격 시험기 HIT450P / HIT300P
기술 개요
| 타입 | HIT450P | HIT300P | |
| 품목 번호 | 1064344 | 1064346 | |
| 공칭 위치 에너지 | 450 | 300 | J |
| 낙하 높이 | 1.3969 | 1.3969 | m |
| 충격 속도 | 5.23 | 5.23 | m/s |
| 무게 | |||
| 펜듈럼 해머 미포함 | 920 | 920 | kg |
| 콘크리트 기지 | 1600 | 1600 | kg |
| 안전 장치 | 90 | 90 | kg |
| 치수, 기지 포함 | |||
| 높이 | 2450 | 2450 | mm |
| 가로 | 2317 | 2317 | mm |
| 세로 | 850 | 850 | mm |
| 주변 온도 | +10 ~ +35 | +10 ~ +35 | °C |
| 보관 및 운송 시 온도 | -25 ~ +55 | -25 ~ +55 | °C |
| 상대습도(비응축) | 20 ~ 90 | 20 ~ 90 | % |
| 시험 결과, 수치 | 충격 에너지[%], 충격 에너지[J], 충격 강도[KJ/m2] | ||
| 출력 장치 | 아날로그 다이얼 표시, 디지털 기기 전자장치 | ||
| 펄스 분해능 | 0.036 | 0.036 | ° |
| 고해상도 기기 전자장치를 이용하는 인터페이스 | • PC 연결용 이더넷 포트 • 프린터나 USB 스틱 또는 USB 멀티플렉서 연결용 USB 포트 2개 • RS232 인터페이스 2개 | ||
| 전원 사양 | |||
| 전원 공급 장치 | 400 | 400 | V, 3Ph/N/PE |
| 허용 전압 변동 | ± 10 | ± 10 | % |
| 전력 소비량(최대 부하), 약 | 1 | 1 | kVA |
| 전력 주파수 | 50/60 | 50/60 | Hz |
| 인터페이스 | • PC 연결용 이더넷 포트 • 프린터나 USB 스틱 또는 USB 멀티플렉서 연결용 USB 포트 2개 • RS232 인터페이스 2개 | ||
| 유형 | HIT750P | |
| 품목 번호 | 1086220 | |
| 정격 초기 위치 에너지 | 750 | J |
| 낙하 높이 | 1500 | mm |
| 충격 속도 | 5.42 | m/s |
| 무게, 약 | ||
| 펜듈럼 해머 미포함 | 3186 | kg |
| 콘크리트 받침 | 2520 | kg |
| 안전 장치 | 130 | kg |
| 치수, 콘크리트 받침 포함 | ||
| 높이 | 2773 | mm |
| 가로 | 2556 | mm |
| 세로 | 1223 | mm |
| 상온 | +10 ~ +35 | °C |
| 보관 및 운송 시 온도 | -25 ~ +55 | °C |
| 상대습도(비응축) | 20 ~ 90 | % |
| 시험 결과, 수치 | 충격 에너지[%], 충격 에너지[J], 충격 강도[KJ/m2] | |
| 출력 장치 | 아날로그 표시, 디지털 계장 전자장치 | |
| 펄스 분해능 | 0.036 | ° |
| 고해상도 계장 전자장치를 이용하는 인터페이스 | • PC 연결용 이더넷 포트 • 프린터나 USB 스틱 또는 USB 멀티플렉서 연결용 USB 포트 2개 • RS232 인터페이스 2개 | |
| 전원 사양 | ||
| 전원 공급 장치 | 400 | V, 3Ph/N/PE |
| 허용 전압 변동 | ± 10 | % |
| 전력 소비량(최대 부하), 약 | 1 | kVA |
| 전력 주파수 | 50/60 | Hz |
플라스틱용 펜듈럼 충격 시험기
ZwickRoell은 HIT 시리즈 플라스틱 시험용 펜듈럼 충격 시험기(최대 50J)를 이용하여 경제적일 뿐 아니라 폴리머 업계에 딱 맞는 정밀 솔루션을 제공합니다.
- 샤르피 시험:
- 아이조드 시험:
- 인장 충격 시험: ISO 8256 A방법과 B방법, ASTM D1822
- 다인스타트 굽힘 충격 시험: DIN 53435
- 가장 일반적인 금속 펜듈럼 충격 시험인 샤르피 시험에서는 정의된 파단점을 표시하는 V형 노치(특별한 경우 U형 노치)로 금속 시편을 가공합니다. 노치가 펜듈럼을 빗겨나간 상태에서 시편이 받침대 중앙에 수평으로 배치됩니다. 펜듈럼이 풀리고 시편을 타격해 부숩니다.
- 시편이 타격을 받으면 일부 운동 에너지를 흡수합니다. 재료가 단단할수록 부서지기 전 변형이 많이 일어납니다. 반면, 잘 부서지기 쉬운 시편은 거의 변형 없이 부서집니다. 파단 속도나 노치 모양 같은 영향도 시험의 중요한 부분이지만, 샤르피 펜듈럼 충격 시험의 주요 목적은 다른 온도에서 같은 재료의 인성을 정성적으로 비교하는 것입니다.
- 다양한 온도에서 동일한 시편을 시험하면 몇 도에서 재료 취성이 일어나는지 측정할 수 있으며, 이는 재료 한계를 예측하는 데 도움이 됩니다. 가령, 항공기 기체 제작 재료의 충격 특성과 기후가 제각각인 지상에서 그리고 고도에 도달하면서 견뎌야 하는 다양한 온도를 파악하는 일의 중요성을 고려해야 합니다.
계장화 및 비계장화 시험의 차이
시험의 목적, 응용 분야, 재료에 따라 펜듈럼 충격 시험은 기존 장비 또는 계장화한 장비를 이용하여 진행됩니다.
- 일반 시험(계장화 안 함)에서는 파손 전후 펜듈럼의 높이 차를 비교하여 파손 시 시편이 흡수하는 에너지의 양을 계산합니다. 흡수된 에너지는 재료의 취성과 직결됩니다. 즉, 취성 재료는 일반적으로 연성 재료에 비해 흡수율이 낮습니다.
- 계장화 충격 시험을 통해 충격 중 힘의 측정값과 연성 파손과 취성 파손을 구별하는 고속 응력/변형률 데이터, 파괴 역학 물성값에 대한 정보를 알 수 있습니다. 따라서 계장화를 통해 파손 에너지뿐 아니라 파손 모드를 측정할 수 있습니다.