雷射延伸計

高溫下的光學應變測量

在高達 +2,000 °C 的超高溫下進行無標記的接觸式精確測量？這對雷射延伸計來說不是問題。 LaserXtens 是在不同環境條件下對不同材料進行光學 / 非接觸式應變測量的理想選擇，溫度範圍寬達 -80 °C 至 +2,000 °C。由於測量原理，無須套用測量標記，從而節省了時間及金錢。

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雷射延伸計的優勢

適用於不斷變化的溫度範圍及環境條件（空氣、真空、惰性氣體等）
普遍適用於各種材料：金屬、耐火材料、陶瓷、石墨、玻璃
各種試樣形狀及尺寸，包含敏感試樣及 1.5 mm 以上的微型試樣
非接觸式應變測量：不影響試樣，免維護
無須標記試樣：節省成本與時間
無論在微觀和宏觀測量範圍内都具有高準確度及精度。
橫向的試樣移動補償（面外）
符合高溫測試的所有標準要求，如 ISO 6892-2、ASTM E21、DIN EN 2002-002

高溫下的光學應變測量 - 其如何運作？

雷射延伸計用綠色或藍色雷射光（取決於溫度範圍）照射試樣，在試樣表面形成散斑圖案。配備特殊濾光片的鏡頭只允許所需的雷射通過，阻擋了來自發光或發熱試樣的干擾紅光。這樣一來，即使在非常高的溫度下也能測量長度的變化。

使用一台或兩台攝影機捕捉帶有散斑圖案的試樣表面。兩個評估區域設在攝影機影像（視區）內，從而定義並追蹤兩個子圖案。每個散斑圖案的位移都是通過非常先進的關聯性演算法計算出來的。根據這些位移測量值的差值計算出試樣的伸長率。

測量時無須標記，也不影響試樣

由於採用了獨特的技術，雷射延伸計無須對試樣做標記。由於環境條件及高溫的影響，在溫箱、高溫烘箱甚至真空室中套用測量標記無論如何都是非常困難的。使用 laserXtens 可省去這項工作，從而節省了時間及成本，尤其是在高試樣量的情況下。

由於採用非接觸式應變測量，laserXtens 與試樣之間沒有機械接觸，也不會受到雷射的影響。此優勢對敏感試樣以及高溫條件尤為有利。採用優化匹配的高溫組件，如 laserXtens、溫度控制單元、試樣溫度測量裝置等，即使在惡劣的環境條件下也能保證可靠的測試結果。高溫爐、真空室及溫箱可在整個測試過程中保持關閉。雷射延伸計通過爐口或玻璃窗從外部測量試樣應變。

橫向的試樣移動補償（面外）

許多專門用於高溫測試的測試設定，可讓試樣在測試開始時自行對齊。這種向測試軸中心的移動，可朝向攝影機、也可遠離攝影機。這在小試樣中尤其常見。但是在梯形視區中，試樣到攝像頭的距離發生變化會導致試樣的放大/縮小，從而影響測試結果。laserXtens 的遠心鏡頭可補償這些横向試樣移動，並將測量誤差降至最低。

增加測量路徑並提高測量準確度

自動對中增加了 LaserXtens 的測量路徑，也提高測量準確度。透過連接橫樑，延伸計以橫樑的半速移動，使測量範圍獲得優化利用。

查看實際應用：高溫下的雷射延伸計

LaserXtens 2-120 HP/TZ 非常適合根據 ISO 6892-2 方法 A1 對金屬進行應變率控制拉伸測試。

用於高溫測試的雷射延伸計

	laserXtens 2-120 HP/TZ 適用於所有試樣的雷射延伸計	laserXtens 1-32 HP/TZ 適用於微型試樣及超高溫的雷射延伸計
溫度範圍	-80°C 至 +1,600°C	-80°C 至 +2,000°C
溫度控制	室溫測試時沒有溫度控制溫度箱高溫爐感應加熱系統	室溫測試時沒有溫度控制溫度箱高溫爐感應加熱系統真空及惰性氣體室
典型應用	應變率控制測試、拉伸、壓縮及彎曲測試金屬、耐火材料、陶瓷、石墨、玻璃	應變率控制測試、拉伸、壓縮及彎曲測試金屬、耐火材料、陶瓷、石墨、玻璃
典型標準	ISO 6892-1 方法 A1 閉環 ISO 6892-2 方法 A1 閉環 ASTM E21 EN 2002-002	ISO 6892-1 方法 A1 閉環 ISO 6892-2 方法 A1 閉環 ASTM E21 EN 2002-002
攝像機數量	2	1
量測範圍	最大 120 mm	最大 32 mm
準確度等級根據 EN ISO 9513	0.5	0.5
雷射光	綠光	綠光及藍光